《半导体器件参数测试自动化》
| 作者 | （苏）Ю.С.卡尔普主编；蔡连超，程文霖译 编者 |
|---|---|
| 出版 | 北京：国防工业出版社 |
| 参考页数 | 168 |
| 出版时间 | 1966（求助前请核对） 目录预览 |
| ISBN号 | 无 — 求助条款 |
| PDF编号 | 87846648（仅供预览，未存储实际文件） |
| 求助格式 | 扫描PDF（若分多册发行，每次仅能受理1册） |
目录5
中功率脉冲晶体管自动分类机5
晶体管集电极电容Cк和集电极-基极回路时间常数rбCк的高稳定性晶体管化测量电路16
半导体结反向电流漂移的测量26
晶体管脉冲状态放大系数Bимп的自动测量38
脉冲晶体管时间特性的测量51
中功率脉冲晶体管寿命试验自动参数测量仪60
隧道二极管直流参数的直接测量方法71
小功率p-n-p晶体管寿命试验台89
小功率p-n-p晶体管寿命试验台的供电系统95
晶体管连接到自动参数测量部件的转换器106
小功率p-n-p晶体管Iко的自动测量114
小功率p-n-p晶体管β参数的自动测量126
小功率p-n-p晶体管1-α参数的自动测量132
小功率晶体管极限振荡频率分类仪145
高压整流二极管击穿电压的自动测定149
1966《半导体器件参数测试自动化》由于是年代较久的资料都绝版了，几乎不可能购买到实物。如果大家为了学习确实需要，可向博主求助其电子版PDF文件（由（苏）Ю.С.卡尔普主编；蔡连超，程文霖译 1966 北京：国防工业出版社 出版的版本） 。对合法合规的求助，我会当即受理并将下载地址发送给你。
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