《粒子探测技术》

目 录1

序言1

第一章微观粒子及其探测原理3

§1-1微观粒子的基本特性3

§1-2粒子探测的基本原理7

§1-3射线的吸收20

第二章粒子探测中的统计规律34

§2-1误差基本概念34

§2-2统计分布37

§2-3统计误差39

§2-4测量数值的审查46

§2-5计数时间或源强的选择47

§2-6电离过程中的统计涨落和能量分辨率48

第三章气体探测器52

§3-1气体探测器的基本原理52

§3-2电离室59

§3-3正比计数器70

§3-4 G-M计数器81

第四章半导体探测器90

§4-1半导体的基本知识和探测器的工作原理90

§4-2半导体探测器的种类和结构98

§4-3半导体探测器的主要参量106

§4-4半导体探测器的应用114

第五章闪烁探测器122

§5-1概述122

§5-2闪烁体123

§5-3光电倍增管136

§5-4光学收集系统146

§5-5闪烁探测器的应用149

§6-1切伦柯夫辐射的原理159

第六章切伦柯夫探测器159

§6-2切伦柯夫辐射的产生和收集163

§6-3切伦柯夫探测器的分类和应用170

第七章气体多丝室180

§7-1多丝正比室的工作原理180

§7-2多丝正比室的构造184

§7-3多丝正比室的主要性能188

§7-4多丝正比室信号的读出192

§7-5主要优点和应用实例194

§7-6漂移室195

§7-7多丝火花室200

§8-1核乳胶的原理和特性206

第八章核乳胶和固体径迹探测器206

§8-2核乳胶中径迹的测量211

§8-3固体径迹探测器214

第九章气泡室219

§9-1气泡室的基本原理219

§9-2气泡室的构造224

§9-3气泡室的特性230

§9-4气泡室混合谱仪和径迹灵敏靶232

§9-5气泡室径迹测量234

§10-1气体中火花放电的机制240

第十章脉冲径迹室240

§10-2多板火花室242

§10-3流光室244

§10-4闪光管描迹仪（闪光室）253

第十一章其它探测器258

§11-1热释光和荧光玻璃258

§11-2自给能探测器260

§11-3通道电子倍增器263

§11-4气体正比闪烁探测器266

§11-5液体电离室269

§11-6穿越辐射探测器和超导探测器273

§11-7高能探测器小结279

第十二章粒子探测系统283

§12-1粒子探测系统概貌283

§12-2粒子探测器的输出电路286

§12-3计数测量290

§12-4能量测量298

第十三章磁谱仪311

§13-1磁谱仪的基本特性311

§13-2β磁谱仪314

§13-3重离子磁谱仪和高能磁谱仪322

附录1常用的物理常数331

附录2 e-t/T数值表（t/T从0.01到6.65）332

附录3 γ［=（1-β2）-1/2］数值表（β从0.01到0.9999）333

附录4常用物质的X射线质量吸收系数333

附录5常用物质的γ射线质量吸收系数（准直束）334

附录6宽束γ射线在不同减弱倍数时的铅层厚度334

附录7质子的电离损耗和射程与能量的关系335

附录8粒子特性表339

附录9常用β和γ放射性核素表341

附录10常用α放射性核素表345

附录11 X射线临界吸收能量和发射能量347

附录12各种探测器的主要性能比较352

附录13世界主要的加速器实验室353