《电子显微分析实用方法》
| 作者 | 吴杏芳，柳得橹编 编者 |
|---|---|
| 出版 | 北京：冶金工业出版社 |
| 参考页数 | 128 |
| 出版时间 | 1998（求助前请核对） 目录预览 |
| ISBN号 | 7502422021 — 求助条款 |
| PDF编号 | 810492068（仅供预览，未存储实际文件） |
| 求助格式 | 扫描PDF（若分多册发行，每次仅能受理1册） |
1.透射电镜的基本结构和操作1
2.透射电镜的试样制备6
3.选区电子衍射及像转角的测定14
4.电子衍射谱衍射常数的测定17
5.单晶体电子衍射谱的拍摄与分析18
6.菊池花样的分析和应用29
7.晶体取向关系的测定38
8.特征平面的分析39
9.位错线方向及柏氏矢量b的测定42
10.层错性质的判断46
11.薄膜试样厚度的测定50
12.扫描电镜的基本原理与实验方法55
13.块状试样的X射线能谱分析(一)——定性分析61
14.块状试样的X射线能谱分析(二)——定量分析68
15.薄试样的X射线能谱分析77
16.电子能量损失谱分析(EELS)92
17.会聚束电子衍射(CBED)方法103
18.薄试样厚度和消光距离的CBED测定112
19.晶体点群的会聚束衍射测定115
附录120
参考书目128
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