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目录1

实验一 表面复型和萃取复型技术及其应用1

实验二 透射电镜薄膜样品制备及典型组织观察10

实验三 选区电子衍射及相机常数和磁转角标定18

实验四 薄晶体样品倾转技术及其应用30

实验五 晶体取向关系的测定36

实验六 晶体缺陷的几何参量分析47

实验七 弱束暗场技术及其应用59

实验八 会聚束电子衍射及其应用65

实验九 扫描电镜结构、原理及应用77

实验十 电子探针结构、原理及应用89

实验十一 能谱仪结构、原理及应用109

参考文献133

附录表1 立方晶体的晶面或晶向夹角表134

表2 可能出现重叠峰的元素和线系143

表3 常见合金相、夹杂物的晶体学数据144

表4 立方晶系?/?表146

表5 元素特征X射线的波长(λ,Α)和能量(E,keV)148

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