《电子显微镜技术》
作者 | (日)坂田茂雄著;那宝魁,张永权译 编者 |
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出版 | 北京:冶金工业出版社 |
参考页数 | 197 |
出版时间 | 1988(求助前请核对) 目录预览 |
ISBN号 | 7502400893 — 求助条款 |
PDF编号 | 87187908(仅供预览,未存储实际文件) |
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目 录1
第1章基本概念1
1.1电子射线的波长和分辨率1
光学显微镜的分辨率1
电子显微镜的分辨率2
1.2电磁式电子透镜4
电磁式电子透镜原理4
实用电子透镜的构造5
1.3几何光学图的描述方法8
透镜的几何光学图的基础8
电镜几何光学图的变化9
1.4透镜的象差及其消除方法13
第2章电子显微镜的构造和维护21
2.1照明系统21
电子枪21
会聚透镜23
摇摆原理25
2.2试样室25
对试样室要求的条件26
实用试样室的构造29
2.3成象系统透镜30
物镜31
中间镜和选区光阑34
高分辨衍射试样室35
2.4观察与记录36
低衬度试样的照相技术37
金属薄膜试样的照相技术38
2.5真空系统41
电镜中所必须达到的真空度41
真空故障及其排除方法42
2.6对中调整方法45
电子枪的对中调整45
会聚透镜的对中调整48
物镜的电流中心48
象差的校正49
第3章通用的制样技术50
3.1试样的支持膜51
火棉胶支持膜51
高倍观察用的微栅53
3.2粉末分散法58
撒落法59
浆糊法61
溶胶、凝胶分散法62
喷雾法65
3.3真空蒸发法70
蒸发法72
阴影溅射法73
复型法74
粉末复型法78
萃取复型法79
3.4金属薄膜制取法84
切片与减薄85
化学减薄88
双面溅射减薄法89
第4章电镜成象的衬度92
4.1散射衬度92
4.2衍射衬度94
4.3相位衬度100
几何光学106
第5章选区电子衍射方法106
5.1选区电子衍射的几何光学106
装置的设定和操作方法110
旋转角的校正112
选区电子衍射法的精度114
5.2晶体学基础(概要)116
周期结构和衍射现象117
面间距的计算120
消光规律124
晶面角125
晶体学符号126
单晶衍射花样的计算129
5.3电子衍射图的计算129
德拜-谢乐环的计算130
5.4利用单晶衍射花样鉴定物质133
单晶衍射花样的注释条件133
定性分析实例135
5.5利用电子计算机标定指数148
程序概要148
计算程序151
第6章 能量色散谱仪(EDX)分析法154
6.1能量色散谱仪信号的定量分析155
薄膜试样的厚度和X射线强度155
微粒试样的X射线强度157
6.2分析精度159
薄膜厚度的测量精度159
微粒重量的测量精度159
6.3利用能量色散谱仪进行定量分析的方法160
第7章动态观察法164
7.1多用途试样室的构造166
7.2各种试样夹持器167
7.3防止氧化、脱碳的措施173
7.4动态观察实例174
参考书目177
附录:面指数和面间距表178
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