《材料电子显微分析》求取 ⇩

1电镜的结构与成象1

1.1 光学显微镜的局限性1

1.2 电子的波长2

1.3 电子透镜3

1.4 电子透镜缺陷和理论分辨距离5

1.4.1 球差、象散、色差6

1.4.2 理论分辨距离7

1.5 电子透镜的场深和焦深8

1.6 电镜的主要结构9

1.6.1 电子光学系统11

1.6.2 真空系统15

1.6.3 供电系统16

2电镜中的电子衍射及其分析17

2.1 斑点花样17

2.1.1 形成原理17

2.1.2 实验方法26

2.1.3 花样指数标定29

2.1.4 实际应用44

2.2.1 形成原理57

2.2 菊池线花样57

2.2.2 指数标定60

2.2.3 应用概况61

2.3 会聚束衍射花样62

2.3.1 形成原理62

2.3.2 实验方法与常用的会聚束衍射花样68

2.3.3 指数标定69

2.3.4 实际应用70

3.1 复型象(质厚衬度象)78

3.1.1 成象原理78

3电镜显微图象解释78

3.1.2 衬度公式79

3.1.3 图象分析80

3.2 衍衬象84

3.2.1 形成原理84

3.2.2 成象方式86

3.2.3 完整晶体衬度87

3.2.4 不完整晶体衬度94

3.2.5 显微象分析所需辅助技术126

3.2.6 结尾130

3.3 相位象134

3.3.1 形成原理135

3.3.2 两束和三束形成的晶格象140

3.3.3 可直接解释的结构投影象144

4扫描电子显微术149

4.1 结构原理149

4.2 分辨率和放大倍率150

4.3 工作方式151

4.3.1 发射方式152

4.3.2 反射方式153

4.3.5 俄歇电子方式154

4.3.4 透射方式154

4.3.3 吸收方式154

4.3.6 X射线方式155

4.3.7 阴极发光方式155

4.3.8 感应信号方式155

4.4 形貌象解释155

4.4.1 图象分析示例155

4.4.2 常见断口象157

4.5 成分分析161

4.6 通道效应分析161

4.6.2 通道花样性质162

4.6.1 通道效应产生原理162

4.6.3 实验方法与应用163

6X射线显微分析和俄歇能谱分析166

5.1 X射线显微分析技术166

5.1.1 成分分析166

5.1.2 晶体学分析171

5.2 表面探针172

5.2.1 低能电子衍射仪172

5.2.2 俄歇电子能谱仪174

1 试样制备178

附录178

2一些元素的物理性质186

3 常用的晶体学公式188

4 常见的部分倒易面191

5 倒易面特征值表193

6 常用的材料d值表199

7 立方晶系夹角关系202

8 常用的极射赤面投影和菊池图208

9 一些常见材料的消光距离214

10 部分晶体的位错g·b值218

主要参考书目222