《分析晶体缺陷的电子显微术》
作者 | (美)洛雷托,(美)斯莫尔曼著;康振川,王桂金译 编者 |
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出版 | 上海:上海科学技术出版社 |
参考页数 | 111 |
出版时间 | 1979(求助前请核对) |
ISBN号 | 15119·2028 — 求助条款 |
PDF编号 | 89219628(仅供预览,未存储实际文件) |
求助格式 | 扫描PDF(若分多册发行,每次仅能受理1册) |

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