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第一章 固体中的缺陷1

1.1 晶格缺陷的分类2

1.2 热平衡状态的点缺陷9

1.3 位错的某些性质14

一般参考文献31

第二章 几种实验技术32

2.1 固体中缺陷的产生32

2.2 研究缺陷的实验方法39

2.3 密度和晶格参数和变化40

2.4 电阻率的测量41

2.5 电子自旋共振和电子-核双共振43

2.6 光谱方法47

2.7 内耗和介电损失的测量54

2.8 显微结构的研究56

第三章 离子晶体中的点缺陷60

3.1 热平衡时的点缺陷60

3.2 纯净晶体的离子导电性61

3.3 离子晶体中的杂质导电64

3.4 扩散和离子导电性68

3.5 卤化碱晶体的测量结果71

3.6 其他离子晶体74

3.7 缺陷能的理论研究75

第四章 离子晶体中的色心79

4.1 卤化碱晶体中色心结构79

4.2 F心的ESR谱和ENDOR谱82

4.3 F心的光学性质90

4.4 F心的受激态98

4.5 受扰F心99

4.6 F聚集中心103

4.7 卤化碱晶体中的俘获空穴中心112

4.8 卤化碱晶体以外的绝缘体116

附录A4 绝缘体中点缺陷的桑德-西布利(Sonder-Sibley)符号规则117

第五章 半导体晶体中的缺陷120

5.1 半导体的某些特性120

5.2 扩散和热平衡时的点缺陷128

5.3 硅中的辐照产生的缺陷135

5.4 半导体中的位错153

一般参考文献154

第六章 金属和合金中的点缺陷155

6.1 热平衡时的晶格空位155

6.2 淬火金属中的缺陷结构167

6.3 金属中的辐照操伤178

一般参考文献183

第七章 位错与其他缺陷之间的相互作用184

7.1 佩尔斯-纳巴罗力184

7.2 晶体中的滑移源187

7.3 点缺陷和位错的相互作用190

7.4 缺陷相互作用和固体形变196

7.5 合金的沉淀硬化207

7.6 位错之间的相互作用213

一般参考文献219

参考文献220

人名索引224

索引228