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前言页1

第一章 晶体的布喇菲胞和点群1

1-1 引言1

1-2 点阵1

1-3 布喇菲胞6

1-4 晶面和晶向10

1-5 晶体外形的对称性14

1-6 点群21

1-7 对称操作的数学表示30

1-8 群的定义及性质33

参考文献35

第二章 空间群37

2-1 引言37

2-2 晶体内部结构的对称素38

2-3 空间群44

2-4 对称素的组合与变换50

2-5 典型结构的空间群55

2-6 空间群在结构测定中的应用60

参考文献63

3-1 引言65

第三章 透射电子显微镜的构造及原理65

3-2 电子的波长与加速电压67

3-3 电磁透镜及像差68

3-4 透射电镜的构造72

3-5 透射电镜的工作方式与合轴77

3-6 电子束与试样的交互作用83

3-7 弹性散射波的合成85

参考文献88

4-1 引言89

4-2 非晶试样的质厚衬度像89

第四章 试样制备及质厚衬度89

4-3 复型试样92

4-4 粉末试样99

4-5 切片试样102

4-6 薄膜试样105

参考文献109

第五章 倒易点阵110

5-1 引言110

5-2 倒易点阵的基矢112

5-3 倒易关系与线面互应116

5-4 正倒点阵的指数转换119

5-5 晶面间距、晶面夹角、晶向夹角121

5-6 倒易点阵的类型125

5-7 倒易阵点的形状130

参考文献134

第六章 标定电子衍射谱的程序136

6-1 引言136

6-2 电子衍射花样的意义137

6-3 像机常数140

6-4 立方和密堆六方结构衍射谱的标定142

6-5 其它类型晶体结构衍射谱的标定152

6-6 六角及菱形点阵的晶体学指数158

6-7 同面间距的指数变换161

6-8 标定电子衍射谱的微机程序164

6-9 多晶电子衍射谱的标定167

6-10 测定新结构的点阵单胞171

6-11 点阵的对称约化176

参考文献181

第七章 高阶劳厄斑的标定183

7-1 引言183

7-2 高阶劳厄斑衍射谱的花样及广义晶带定律184

7-3 设定指数验算平行截矩187

7-4 按平行截距计算指数194

7-5 设定指数验算垂直截距196

7-6 确定差矢变换指数199

参考文献203

第八章 孪晶电子衍射谱标定204

8-1 引言204

8-2 180°旋转孪晶的简易方程207

8-3 立方孪晶的等效类211

8-4 立方孪晶的复合倒易点阵215

8-5 孪晶电子衍射谱的标定步骤217

8-6 二次衍射的附加斑点221

8-7 解算孪晶衍射谱的电子计算机程序224

参考文献226

第九章 位向关系的测定和迹线分析227

9-1 引言227

9-2 极射赤面投影228

9-3 极图的基本操作238

9-4 位向关系矩阵表达的两类基本命题242

9-5 位向关系测定中的问题及解决方法251

9-6 特征平面指数的测定258

参考文献264

第十章 菊池衍射谱的标定265

10-1 引言265

10-2 菊池衍射几何265

10-3 菊池衍射谱的特征268

10-4 菊池衍射谱的标定272

10-5 晶体取向的精确测定278

10-6 标定菊池线微机程序的设计思路281

参考文献284

11-2 会聚束衍射的光路285

第十一章 会取束衍射分析285

11-1 引言285

11-3 衍射盘的第一种衬度来源290

11-4 衍射盘的第二种衬度来源294

11-5 倒易定理与底孔规则299

11-6 会聚束花样对称性的来源303

11-7 31种会聚束衍射群306

11-8 衍射群的确定310

11-9 利用会聚束衍射谱确定晶体的点群313

11-10 用会聚束衍射测定晶体的空间群315

参考文献317

第十二章 调制结构318

12-1 引言318

12-2 多层经结构的分类及表示方法320

12-3 多层结构的电子衍射谱324

12-4 多层结构的一维畴模式328

12-5 代位型长程有序结构333

12-6 间隙型长程有序结构336

12-7 非保守位移超点阵339

参考文献340

第十三章 衍衬导论346

13-1 引言346

13-2 明场像和暗场像操作346

13-3 消光距离348

13-4 衍衬运动学的简化假设351

13-5 等厚条纹与等倾条纹355

13-6 衍衬的动力学解释361

参考文献367

14-1 引言368

14-2 位错像的形成368

第十四章 位错的观测368

14-3 位错线的真实位置372

14-4 位错衬度的定量表达375

14-5 位错布氏矢量的确定377

14-6 位错环分析384

14-7 弱束像387

14-8 位错密度的测定395

14-9 常见位错图像的特征398

参考文献398

15-1 引言416

第十五章 界面与表面416

15-2 界面结构的描述方式417

15-3 叠层衬度431

15-4 层错衬度434

15-5 层错能的测定440

15-6 π边界和δ边界条纹443

15-7 固体表面的晶体结构445

15-8 测定表面结构的方法450

15-9 表面结构的符号452

参考文献455

16-2 第二相导致的应变场衬度456

第十六章 第二相衬度和微衍射技术456

16-1 引言456

16-3 沉淀衬度460

16-4 交互作用衬度461

16-5 μ-衍射技术467

参考文献472

第十七章 薄晶体的高分辨像478

17-1 引言478

17-2 薄晶体的透射函数479

17-3 透镜的变换及修正481

17-4 物镜散焦和球差对相位的影响485

17-5 传递函数和Scherzer欠焦486

17-6 影响传递函数曲线的因素488

参考文献492

17-7 高分辨像举例493

附录一 原子散射因子499

附录二 立方和密堆六方晶体衍射谱的几何特征503

(一)简单立方(pc)503

(二)体心立方(bcc)507

(三)面心立方(fcc)512

(四)密堆六方(hcp)516