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目录1

序言1

第一章 扫描隧道显微分析技术概述1

§1.1 引言1

§1.2 常用分析仪器的分辨本领2

1.光学金相显微镜2

2.扫描电子显微镜3

3.透射电子显微镜4

4.场离子显微镜5

§1.3 扫描隧道显微镜优异的分辨本领6

§1.4 扫描隧道显微镜的工作原理7

参考文献10

第二章 材料原子结构的扫描隧道显微分析12

§2.1 石墨晶体的原子结构12

§2.2 纯金属原子结构及表面重构15

1.表面重构的形成及描述15

2.Au原子结构的STM研究17

3.其它金属18

§2.3 半导体材料表面原子结构及重构19

1.Si(111)(7×7)及(1×1)重构20

2.Si(100)及Si(110)面的重构22

§2.4 纯金属表面吸附过程的动态研究23

§2.5 纯金属表面物理沉积过程的原位观察28

§2.6 半导体材料表面物理沉积过程的原位观察29

§2.7 其它30

参考文献32

第三章 材料组织结构的原子尺度分析研究35

§3.1 材料组织结构STM研究的相关问题35

1.原子分辨与原子尺度分辨35

2.材料的导电性及表面污染37

3.材料微观组织显示39

4.表面浮突与相变机制40

5.STM图象的重复性42

6.其它问题42

1.多晶纯金属晶界的STM研究43

§3.2 STM在材料组织结构研究中的应用43

2.合金相组织形态的STM分析44

3.材料表面形貌的大范围观察45

4.材料表面形貌的原子尺度研究45

5.材料表面形貌大范围与原子分辨观察的结合45

6.其它50

参考文献51

§4.1 扫描隧道显微镜工作参数选择53

第四章 扫描隧道显微分析实验技术53

§4.2 扫描隧道显微镜的针尖制备54

§4.3 样品制备技术58

1.微米级光滑表面58

2.亚微米级光滑表面59

3.金相样品表面59

4.纳米级光滑表面61

5.原子尺度光滑表面62

§4.5 材料的表面防护63

2.浸蚀过程应减少表面的再氧化吸附63

§4.4 扫描隧道显微分析样品的组织结构显示63

1.适当控制样品的化学浸蚀程度63

参考文献65

第五章 作者在扫描隧道显微镜应用方面的研究工作66

§5.1 实验技术66

1.合金成分与组织设计66

4.STM工作参数68

§5.2 Fe-C-Cr-Si钢等温贝氏体研究68

3.合金样品清洁表面的防护方法68

2.样品制备68

§5.3 Fe-C-Cr合金碳化物组织形态观察74

§5.4 Cu-Zn-Al-Re合金等温贝氏体观察75

§5.5 扫描隧道显微镜图象的解释78

1.不同分析手段测得结果的比较78

2.关于STM的放大倍数81

3.STM优异的纵向分辨本领81

4.合金相STM图象衬度的分析解释83

参考文献84

第六章 扫描隧道显微镜应用前景展望85

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