《表2 样品环境试验方案:厚膜混合集成电路粘接工艺研究》
备注:“√”表示该项试验必做,“-”表示该项试验不做。
将上述制备的工艺样品按照表2方案进行环境试验,每组试验后测试粘接电容端头接触电阻,并在超景深显微镜下观察粘接形貌拍照保存。对比不同端头材料电容粘接质量。
图表编号 | XD0086376100 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.09.30 |
作者 | 刘颖潇、林政、张天会 |
绘制单位 | 深圳市振华微电子有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
备注:“√”表示该项试验必做,“-”表示该项试验不做。
将上述制备的工艺样品按照表2方案进行环境试验,每组试验后测试粘接电容端头接触电阻,并在超景深显微镜下观察粘接形貌拍照保存。对比不同端头材料电容粘接质量。
图表编号 | XD0086376100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.09.30 |
作者 | 刘颖潇、林政、张天会 |
绘制单位 | 深圳市振华微电子有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |