《表1 筛选试验:微电路模块灌封工艺研究》
在验证实验中,共选取8只样品,采用上述方案三的操作方法进行灌封操作,并在烘箱内按要求固化,固化后进行平行缝焊封盖。对样品进行筛选试验和鉴定试验,以验证灌封方案的可靠性。筛选试验结果如表1所示。筛选结论:8只样品全部合格。
图表编号 | XD00211782000 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 关亚男、王广奇 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十七研究所、中国电子科技集团公司第四十七研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
在验证实验中,共选取8只样品,采用上述方案三的操作方法进行灌封操作,并在烘箱内按要求固化,固化后进行平行缝焊封盖。对样品进行筛选试验和鉴定试验,以验证灌封方案的可靠性。筛选试验结果如表1所示。筛选结论:8只样品全部合格。
图表编号 | XD00211782000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 关亚男、王广奇 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十七研究所、中国电子科技集团公司第四十七研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |