《表1 重离子参数:130nm体硅反相器链的单粒子瞬态脉宽特性研究》
重离子实验在中国科学院近代物理研究所的重离子加速器上进行,实验选用的重离子的能量、LET值及在硅中的射程如表1所示。重离子垂直测试芯片轰击,注量为1×107个离子/cm2。实验过程中,通过片上检测电路检测捕捉目标电路发生SET脉冲效应时的脉宽和个数。
图表编号 | XD0083800000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.06.01 |
作者 | 李赛、陈睿、韩建伟 |
绘制单位 | 中国科学院国家空间科学中心、中国科学院大学、中国科学院国家空间科学中心、中国科学院国家空间科学中心、中国科学院大学天文与空间科学学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |