《表2 8 6 Kr离子测试反相器链SET脉宽值》

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《0.13μm部分耗尽SOI工艺反相器链SET脉宽传播》

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利用86Kr离子对器件辐照35 min，累积注量为2.1×107/cm2。1.2 V T栅反相器链的异步锁存器共发生8次状态翻转，平均4 min翻转1次，1次翻转无脉宽输出视为无效，有效翻转为7次。7次翻转测得的脉宽值如表2所示。