《表1 关键考核试验及条件》

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《大容量存储器高可靠性3D封装技术研究》

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按照用户的需求，该电路质量等级至少满足一般民用和工业级要求，研制目标瞄准宇航级标准。为此，所设计的考核试验条件参照GJB548B-2005相关要求。针对样品电路进行了考核试验。表1中列出了一些关键的考核项目和条件。