《表1 PEEK表面电极的设计尺寸》

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《压接型IGBT器件封装结构中PEEK框架的绝缘特性分析》

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ASTM D257-14标准[16]指出，在测量试品电导率时应考虑使用高压、低压（测量）电极以外的第三电极，即保护电极，来消除表面极化电流和漏电流导致的测量误差，因而本研究采用如图3所示的三电极结构，图3中各电极的参考设计尺寸见表1。