《表1 不同中间接头样本的tanδ值》

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《XLPE中压电缆中间接头的界面老化修复研究》

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中间接头老化前、老化后及老化修复后的介质损耗因数（tanδ）如表1所示。从表1可以看出，老化后中间接头样本的tanδ相比老化前急剧增大，修复后中间接头样本的tanδ减小，几乎和老化前中间接头样本一样，证明通过注入修复液可以对老化中间接头进行修复，提高其绝缘性能。