《表4 1#、2#主变绕组tanδ现场试验值与出厂值对比表》

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《一起330kV变压器绕组绝缘电阻偏低问题的分析》

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绝缘介质损耗因数（tanδ）用来表示绝缘系统电容的介质损耗特性。绝缘能力的下降直接反应为介损增大。为了进一步分析问题产生的原因，对变压器绕组的tanδ进行了对比，所得数据见表4。