《表1 太赫兹混频器性能对比》
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《GaAs肖特基二极管的250 GHz二次谐波混频器研究》
为了观察混频器受本振频率的影响情况,测试时,fLO分别设定为120、125、130 GHz。通过观察本振输入功率与变频损耗的关系,发现本振功率PLO=8 dBm时,变频损耗较低。通过测量,获得射频输入频率与变频损耗间的关系,如图6所示,这里每条测试曲线都对应的本振频率及输入功率固定不变。测试结果表明:悬置微带线在125 GHz的本振频率时,fRF在220~270 GHz的SSB变频损耗为8.6~12.7 dB,波动变化较大;当fLO为120 GHz和130 GHz时,在射频255 GHz工作点发生严重的恶化。而普通微带线混频器的SSB变频损耗在不同本振频率条件下,都表现处较好的平滑性,且当fLO=120 GHz时,fRF在220~260 GHz范围内SSB变频损耗为8.4~11.4 dB;在fLO为125、130 GHz时则要稍差一些。文中测试结果与国内其他太赫兹混频器性能进行比较的结果如表1所示,可见文中设计的二次谐波混频器的单边带变频损耗性能较好。
图表编号 | XD0065904900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.07.25 |
作者 | 胡海帆、赵自然、马旭明、姜寿禄 |
绘制单位 | 清华大学工程物理系、同方威视技术股份有限公司电磁感知事业部、清华大学工程物理系、同方威视技术股份有限公司电磁感知事业部、同方威视技术股份有限公司电磁感知事业部、清华大学工程物理系、同方威视技术股份有限公司电磁感知事业部 |
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