《表1 关键鉴定检验项目对比》
以半导体分立器件为例,将AEC-Q101规定的关键鉴定检验项目与GB/T 12560-2006《半导体器件第11部分:分立器件分规范》规定的关键检验项目进行了对比分析,详见表1。
图表编号 | XD0057295800 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2019.02.10 |
作者 | 张秋、闫美存 |
绘制单位 | 中国电子技术标准化研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
以半导体分立器件为例,将AEC-Q101规定的关键鉴定检验项目与GB/T 12560-2006《半导体器件第11部分:分立器件分规范》规定的关键检验项目进行了对比分析,详见表1。
图表编号 | XD0057295800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.02.10 |
作者 | 张秋、闫美存 |
绘制单位 | 中国电子技术标准化研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |