《表3 掺杂体系接触电阻和燃弧能量》

《表3 掺杂体系接触电阻和燃弧能量》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
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《La、Bi共掺杂Ag/SnO_2触头材料导电性能的理论分析》


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La单掺杂SnO2、Bi单掺杂SnO2及La、Bi共掺杂Ag/SnO2触头材料的实验数据如表3所示。当只有La掺杂时,接触电阻值主要在0.2~1.4mΩ之间变化,平均接触电阻值在0.62mΩ左右;当只有Bi掺杂时,接触电阻值主要在0.4~1.7mΩ之间变化,平均接触电阻值在0.78mΩ左右;而在La、Bi共掺杂时,接触电阻值在0.3~1.3mΩ之间变化,平均接触电阻值在0.54mΩ左右。对比可知La、Bi共掺杂后接触电阻值相对较小,且接触电阻值的变化范围小,稳定性较好,同时共掺杂后燃弧能量相对较小,平均燃弧能量在183mJ左右,导电性能相对优于单掺杂触头材料。