《表1 生瓷片数据：LTCC技术中生瓷片的形变分析及应用》
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从图3、图4、图5中可以看出形变量主要分布在一个相对集中的区域内，因此可用这组数据的平均值作为这层的形变量进行形变分析，可用标准偏差衡量形变量的分散程度。
| 图表编号 | XD0041689100 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.04.01 |
| 作者 | 杨伟、马其琪、贾少雄 |
| 绘制单位 | 中国电子科技集团公司第二研究所微组装中心、中国电子科技集团公司第二研究所微组装中心、中国电子科技集团公司第二研究所微组装中心 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
