《表4 无膜生瓷片老化工艺试验(单位:mm)》
采用上述方案后,改进后通孔对位精度明显提高,达到≤40μm水平,如图5所示。
图表编号 | XD0096785600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.08.01 |
作者 | 贾耀平 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第十研究所工程设计中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
采用上述方案后,改进后通孔对位精度明显提高,达到≤40μm水平,如图5所示。
图表编号 | XD0096785600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.08.01 |
作者 | 贾耀平 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第十研究所工程设计中心 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |