《表4 远紫外作用下PI薄膜N元素的化学价键变化Tab.4 Change in chemical bond of N in PI film under FUV irradiation》
远紫外辐照下N元素的化学价键变化分析见表4、图6。由表4和图6分析可知,峰位399.81、400.4、400.8 e V分别代表—N(C (O)) 键、C—N键和游离的N。随着远紫外曝辐量的增加,游离N的含量逐渐增加,C—N键的含量逐渐减小,这说明C—N键的断裂增加,同时有游离的N生成。
图表编号 | XD004080300 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.05.20 |
作者 | 沈自才、马子良、代巍、牟永强、白羽、丁义刚 |
绘制单位 | 北京卫星环境工程研究所、北京卫星环境工程研究所、北京卫星环境工程研究所、北京卫星环境工程研究所、北京卫星环境工程研究所、北京卫星环境工程研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |