《表1 不同DAPBO含量PI薄膜的热重测试结果Tab.1 TGA test results of PI films with different DAPBO content》
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对该系列PI薄膜进行热失重测试，表征其热稳定性的变化情况，具体测试条件:Ar气氛，温度范围为30～900℃，升温速率为10℃/min。测试结果如图6所示。将测试曲线中分析得出的相关数据整理在表1中。
| 图表编号 | XD0036165800 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.01.20 |
| 作者 | 韩松锋、唐必连、青双桂、马传国 |
| 绘制单位 | 桂林电子科技大学材料科学与工程学院、桂林电器科学研究院有限公司、桂林电器科学研究院有限公司、桂林电子科技大学材料科学与工程学院 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
