《表3 远紫外作用下PI薄膜O元素的化学价键变化Tab.3 Change in chemical bond of O in PI film under FUV irradiation》

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《空间远紫外辐照聚酰亚胺薄膜力学性能演化机理》

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远紫外辐照前后O元素的化学价键及其变化见表3、图5。由表3和图5分析可知，峰位531.8、532.2、533.1 e V分别代表C=O键、—N（C （O）） 键和C—O—C键。在远紫外辐照作用下，薄膜材料中C—O—C发生断裂，导致C—O健的含量降低，并引起C=O价健含量的升高。随着曝辐量的增加，进一步发生分子链的交联，微观表现为C—O—N价键含量的升高和C—O—C价健含量的进一步降低。在宏观上则表现为薄膜材料的抗拉强度先降低后升高。在远紫外曝辐量为300 ESH时，薄膜材料中的C—O—C价键完全断裂，宏观表现为此时的抗拉强度最小。