《表2 IGBT模块寿命的K-S检验》

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《基于K-S检验法和ALTA的IGBT模块可靠性寿命分布研究》

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单一样本容量n=8，由于样本容量较小，故取显著水平α=0.05，由单样本K-S检验统计可查得Dn，α=0.454 3。当D>Dn，α时，观测样本总体分布不服从某特定分布，即接受H1；反之，则为H0假设。表2为IGBT模块寿命的K-S检验结果。