《表1 方钠石和钙霞石的特征衍射峰》
钠硅渣中硫含量(以S元素的质量分数计,表示为w(S)(%))采用测硫仪(HDS3000,湖南华德电子有限公司,中国)测定,测试温度为1150℃,误差为±0.01%。滤液中硅含量用电感耦合等离子光谱发生仪(ICP,ICAP7400 Radial,赛默飞世尔科技公司,美国)测定,并换算为Si O2含量,表示为ρ(Si O2)(g/L)。钠硅渣的物相分析采用X射线衍射分析仪(铜靶,D/MAX2500X,理学株式会社,日本),扫描速率为10 (°)/min。衍射图谱通过jade 6.5软件解析。如表1所示,方钠石的XRD谱中(211)晶面对应的最强峰和(110)晶面对应的次强峰分别与钙霞石的XRD谱中(300)和(110)晶面对应的衍射峰基本重合,难以运用内标法[23]、RIR法[24-25]等方法计算方钠石、钙霞石的质量分数。同时,在方钠石转化为钙霞石的过程中,随着钙霞石含量的增大,其(101)和(211)晶面对应衍射峰的强度不断增强。基于此变化规律,Barnes将不同质量的方钠石和钙霞石混合,对混合物进行XRD分析,计算各衍射图中C211/(C110+S110)、C211/(C300+S211)、C101/(C110+S110)和C101/(C300+S211)的数值。结果表明,上述四个变量均与钙霞石质量分数呈正比例关系,因此可以通过四个变量的线性组合来计算钙霞石的质量分数,表示为w(CAN),具体参数如式(3)~(7)所示。钙霞石含量较低时,该计算方法更加敏感。当质量分数在10%以内,误差为±5%;当质量分数在20%以上,误差为±8%。该方法的计算下限为钙霞石含量2.5%[26]。
图表编号 | XD00229786600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.08.28 |
作者 | 李小斌、席亚伟、王一霖、齐天贵、刘桂华、周秋生、彭志宏 |
绘制单位 | 中南大学冶金与环境学院、中南大学冶金与环境学院、中南大学冶金与环境学院、中南大学粉末冶金研究院、中南大学冶金与环境学院、中南大学冶金与环境学院、中南大学冶金与环境学院、中南大学冶金与环境学院 |
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