《表2 Zernike多项式与Sediel像差的对应关系》

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式中，S为连续光学表面矢高，ai为第i项的系数，Zi为Zernike环形多项式第i项的系数，ξ为中心遮拦比，（ρ，θ）为变形后单元节点的坐标。通常采用前7项像差描述光学系统的像质，而前8阶Zernike多项式的线性组合包含全部7项像差。Zernike多项式与Sediel像差的对应关系如表2[10]所示。