《表1 静电放电测试过程:静电放电对试验任务测试设备的影响及防护》
先将直流电源(3.3V)接入2个光耦芯片的初级引脚1与引脚2间,次级导通,引脚5接地;再使用静电放电发生器对光耦芯片进行测试。静电放电测试过程如表1所示。
图表编号 | XD00222102700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2020.10.01 |
作者 | 丁磊、徐慧娟、潘涛 |
绘制单位 | 中国人民解放军63601部队、中国人民解放军63620部队、中国人民解放军63601部队 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
先将直流电源(3.3V)接入2个光耦芯片的初级引脚1与引脚2间,次级导通,引脚5接地;再使用静电放电发生器对光耦芯片进行测试。静电放电测试过程如表1所示。
图表编号 | XD00222102700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.10.01 |
作者 | 丁磊、徐慧娟、潘涛 |
绘制单位 | 中国人民解放军63601部队、中国人民解放军63620部队、中国人民解放军63601部队 |
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