《表2 不同吸收片厚度的光电峰相对计数率》

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《闪烁γ谱仪虚拟仿真实验系统设计与应用》

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实验以137Cs为例，分析吸收片对γ射线（窄束）的吸收规律。首先测量未加吸收片（如铜片）时的计数率I0，再测量加入不同数量吸收片后的计数率，得出相对计数率I/I0，见表2。分别以厚度x为横轴，相对计数率I/I0为纵轴，在半对数坐标图上绘制吸收曲线，见图9，拟合的曲线函数关系式见式（4）和（5）。从式（4）可知，穿过吸收物质的γ射线的强度随吸收物质厚度呈指数衰减规律，与γ射线在物质中的吸收规律的理论公式I=I0e-μx是一致的，其中μ为线性吸收系数（μ=(ln2）/d1/2)，与吸收物质的原子序数及密度等性质相关，d1/2为半吸收厚度（即γ射线强度减弱一半所需的吸收层厚度）[13-14]。从图8可见，在半对数坐标轴中该吸收曲线为直线，其斜率的绝对值即为线性吸收系数μ。从式（4）和（5）可知，吸收系数为0.057 mm–1。通过插值法或μ=（ln2）/d1/2公式计算可知半吸收厚度d1/2为12.16 mm。