《表3 测厚仪测量不同厚度的铝膜时的计数率结果》

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《基于碲锌镉探测器的测厚仪的研制》

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采用图2结构建立的测厚仪，我们使用CdZnTe探测器进行测量，源与被测物的距离为2.5cm，与探测器的距离为5cm。由于放射源活度为3.86×104Bq，探测器探测到的计数率较低，因此每一个厚度的测量时间为4000s，通过增加总计数降低统计涨落引起的不确定度。该实验中透射的241Am低能γ射线的计数率同时采用定标器和Maestro软件读出，在选择合适阈值时，两者计数率一致，测量数据见表3。