《表1 Hf O2的GIXRR拟合结构模型》
考虑到基底与薄膜间不是理想的界面,基底在薄膜沉积前及沉积过程中可能会自然氧化,吸附潮气和杂质,同时界面附近材料会相互渗透,所以假设在拟合模型中薄膜和基底之间增加一层界面层;由于薄膜样品在储藏、使用中,薄膜表面与空气界面吸附杂质、水分、碳氢化合物等,所以在拟合模型中样品最上面增加一层表面污染层。拟合结构模型见表1,对应的拟合图形见图2。
图表编号 | XD00201109600 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2021.01.18 |
作者 | 高慧芳、任玲玲 |
绘制单位 | 中国计量科学研究院、中国计量科学研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |