《表3 整体算法长度测量结果Tab.3 Overall algorithm length measurement results》
为了验证自适应采样频率算法、频谱细化以及频谱校正三者相结合能够有效提高长度测量的准确度,分别在6种不同速度下进行了长度测量,并将校准箱触摸屏上显示的长度值作为参考值,测量结果如表3所示。
图表编号 | XD0020031400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.12.15 |
作者 | 王鹏、耿凯、孙长库 |
绘制单位 | 天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室、天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室、天津大学精密测试技术与仪器国家重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |