《表1 不同W掺杂量的富锂锰层状正极材料的晶胞参数》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《W掺杂改性富锂锰层状正极材料》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

图1(a）为W掺杂富锂锰合成工艺流程，图1(b）为不同W含量掺杂富锂锰层状正极材料的XRD图，可以看出改性前后的材料都具有相似的衍射特征峰（PDF No.#85-1980），结构属于R-3 m空间群[17-21]。对XRD数据进行Rietveld结构精修后得到的晶胞参数如表1所列，不同W量掺杂的正极材料，精修后的c/a值均大于4.92，表明基体材料和改性后的正极材料均具有良好的层状结构。随着W掺杂量的增加，正极材料的晶胞体积和c/a值出现先增大后减小的变化趋势，这表明热处理过程中，少量W掺杂时，具有更大原子半径的W进入层状结构，增大了层间距和晶胞体积；但当掺杂量超过3%时，晶胞体积以及c/a值均出现一定程度的下降，说明W掺杂量过多时，W元素可能第二相WO3形式存在，与基体材料相比，对于晶格参数的影响并不明显。