《表1 四面体网格数据:层叠微芯片封装翘曲行为优化分析》
导入到Moldflow 2016中的模型,按照3D实体划分网格,设定全局边长0.01 mm,相对边50%,检查网格合格性,修复纵横比过大缺陷至网格数据满足试验要求,具体数据见表1。
图表编号 | XD00192326700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.01.01 |
作者 | 罗成、吴文云、廖秋慧、黄涛 |
绘制单位 | 上海工程技术大学材料工程学院、上海工程技术大学材料工程学院、上海工程技术大学材料工程学院、上海工程技术大学材料工程学院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |