《表2 SEM放大倍数的校准数据Tab.2 Calibration results for SEM magnification》
为了实现对AM-MTD-CRM的准确定值,采用了“扫描电子显微镜+图像分析”的定值技术。采用可溯源至国家长度基准的400 nm和20μm测微尺对SEM放大倍数和图像分析系统进行校准。目前,该方法已在GBW12017等国家一级粒度标准物质的研制中得到应用[13]。SEM放大倍数的校准数据参见表2。
图表编号 | XD0018690100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.12.25 |
作者 | 刘俊杰、肖骥、王静文、齐天缘 |
绘制单位 | 中国计量科学研究院、中国计量科学研究院、中国石油大学(北京)、中国石油大学(北京) |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |