《表1 Si C二极管模块静态测试结果》
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《3.3 kV 60 A H桥高压SiC二极管模块模拟与制作》
3 300 V 60 A H桥Si C模块静态测试结果如表1所示。常温下,正向电流(IF)60A条件下,测得二极管正向压降(VF)在2.1 V左右;反偏电压(VR)3 600 V条件下,测得芯片漏电流(IR)小于5μA;反向电流(IR)0.05 m A条件下,测得击穿电压高达3 700 V以上。对于3 300 V器件,具有较大的安全余量。
图表编号 | XD00185788100 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.10.25 |
作者 | 郝凤斌、金晓行、王玉林、滕鹤松、柏松、陈刚 |
绘制单位 | 国扬电子有限公司、宽禁带半导体电力电子国家重点实验室、国扬电子有限公司、宽禁带半导体电力电子国家重点实验室、国扬电子有限公司、宽禁带半导体电力电子国家重点实验室、国扬电子有限公司、宽禁带半导体电力电子国家重点实验室、宽禁带半导体电力电子国家重点实验室、南京电子器件研究所、国扬电子有限公司、宽禁带半导体电力电子国家重点实验室、南京电子器件研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
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