《表1 FPGA配置模式》
基于ATE(Automatic test equipment,即自动测试设备)对FPGA进行测试的大部分时间使用在配置上,因而对配置模式的选择尤其重要。如表1所示,FPGA主要的配置模式有边界扫描、主串、从串、主并和从并模式。为了节省测试配置时间,本文采用从并配置模式对FPGA进行测试配置,原因是从模式的时钟CCLK可从外部提供,同时并行模式可以令32位数据并行加载。
图表编号 | XD0016615700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.10.20 |
作者 | 肖艳梅、陆锋 |
绘制单位 | 江南大学物联网工程学院、江南大学物联网工程学院、中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |