《表1 FPGA配置模式》

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《一种优化FPGA测试配置时间的方法》


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基于ATE(Automatic test equipment,即自动测试设备)对FPGA进行测试的大部分时间使用在配置上,因而对配置模式的选择尤其重要。如表1所示,FPGA主要的配置模式有边界扫描、主串、从串、主并和从并模式。为了节省测试配置时间,本文采用从并配置模式对FPGA进行测试配置,原因是从模式的时钟CCLK可从外部提供,同时并行模式可以令32位数据并行加载。