《表3 试验件下端缺陷纵波检测数据结果表》
对于试验件下端缺陷的纵波检测结果如图6所示,其检测数据记录见表3。通过图6中对试验件下端缺陷的纵波检测结果能够发现,各探头都能检测出缺陷的存在,在仪表上依次显示的为始波(约0mm处)、远端裂纹缺陷波(约28.0mm处)、螺杆阶梯处信号(约40mm处)、开口销孔上下两面信号波(约48mm、52mm处)、底波(约56mm处)。通过表3中检测数据对比可以发现,当探头频率为2MHz、晶片尺寸为6mm时,实现对试验件缺陷中心位置的确定,且波高占比高达76.0%,该缺陷信号非常明显。其中探头频率为5MHz、晶片尺寸为14mm时对裂纹缺陷定位误差较大,且缺陷波波高占比只有33%,观察该探头下的检测波形可以发现在0~12mm都有较高回波信号,究其原因为该探头尺寸较大,探头的近场区较宽,导致该区域出现不规则的杂波。
图表编号 | XD00160030500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.06.15 |
作者 | 张海兵、温德宏 |
绘制单位 | 海军航空大学青岛校区、海军装备部 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |