《表3 解复用时1530 nm和1550 nm的TE0模、TE1模和TE2模的插入损耗》

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《基于光子晶体的2波长×3模式混合复用/解复用器研究》

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解复用是复用的逆过程，本文不再赘述。由仿真可以检测到解复用时1530 nm和1550 nm的TE0模、TE1模和TE2模的输出光强，以及输出到其它端口的输出光强，利用式（5）计算插入损耗如表3所示。利用式（6）计算信道串扰如表4所示。