《表2 复用时1530 nm和1550 nm的TE0模、TE1模和TE2模的信道串扰》

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《基于光子晶体的2波长×3模式混合复用/解复用器研究》

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仿真中检测到复用时1530 nm和1550 nm的TE0模、TE1模和TE2模在端口7输出的光强，以及输出到其它端口的光强，利用式（5）计算插入损耗，结果如表1所示。利用式（6）计算信道串扰，结果如表2所示。