《表1 氮化硅薄膜非均匀性、折射率、透过率随N2 Flow的变化》
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《应用于AMOLED薄膜封装的高应力氮化硅工艺探讨》
从图4可以看出,随着N2 Flow增加,膜层非均匀性逐渐下降,大规模量产时膜层的工程能力将得到改善。从图5可以看出,随着N2 Flow增加,膜层折射率下降、透过率增加,膜层光学特性得到改善。因次可以通过调节N2 Flow改善膜层均匀性及光学特性。
图表编号 | XD00151496700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.05.15 |
作者 | 杨国波、赵文星、孙泉钦、李端明、郜明浩 |
绘制单位 | 成都京东方光电科技有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |