《表3 图4b中电侵蚀后Ag/SnO2静触头表面上浮颗粒EDS分析》

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《Ag/SnO_2电接触材料的制备及其燃弧特性研究》

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图4b是静触头微区侵蚀表面的SEM照片，相比于动触头表面，静触头表面并未发现高长径比的凹坑，表面整体光滑平坦，仅在局部区域有液滴飞溅的现象。由图4b中放大图可知，该区域为液滴飞溅边缘区，经EDS分析表明其内部组分为SnO2颗粒（见表3）。由于SnO2颗粒为纳米级别，因此从图4d中可以发现尽管SnO2颗粒存在团聚现象，但是其团聚程度不足以长时间维持电弧能量，对比可知，动触头微区表面的电弧侵蚀严重程度高于静触头。