《表1 算法对比数据：并行半导体生产线投料控制策略研究》

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《并行半导体生产线投料控制策略研究》

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根据图1不同时间段的相关度R2，可知10天的曲线拟合相关度较高，为0.769 8。因此选取前10天为第一批数据。依次对剩余50天的数据重复进行以上操作，得到各曲线拟合度最高的各时间段对应的曲线拟合图。可以发现满载情况下，在不同时间段，输出主瓶颈设备利用率均值都存在波动，即投料影响主瓶颈设备利用率值，具体影响效果见表1。