《表4 芯片与模块失效率：某电源芯片μ via开裂失效分析及风险评估》
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根据以上评估结果，模块在工程现场长期应用的失效率很高，远远超出可以接受的范围。因此，涉及到风险批次电源芯片的模块，即使测试通过也不能发货，必须全部退回供方进行技改。
| 图表编号 | XD001202500 严禁用于非法目的 |
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| 绘制时间 | 2019.11.20 |
| 作者 | 张丽丽、郭晨城 |
| 绘制单位 | 中兴通讯股份有限公司、电子信息产品可靠性分析与测试技术国家地方联合工程研究中心、中兴通讯股份有限公司、电子信息产品可靠性分析与测试技术国家地方联合工程研究中心 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
