《表1 组件芯片失效率：融合多源数据的Ka相控阵天线可靠性评估》

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《融合多源数据的Ka相控阵天线可靠性评估》

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通过查询技术手册或经验数据，评估相控阵天线可靠性先验值。首先，通过元器件手册获取相控阵天线各个组件芯片的失效率，包括：预放功率放大芯片失效率λ1，预放模块低噪声放大芯片失效率λ2，预放电源开关芯片失效率λ3，网络模块电源芯片失效率λ4，T/R组件功率放大芯片失效率λ5，T/R组件低噪声放大芯片失效率λ6，T/R组件移相衰减芯片失效率λ7，网络组件电源驱动控制芯片失效率λ8，收发切换芯片失效率λ9，具体见表1。