《表3“Ka相控阵天线可靠度”节点条件概率表》

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《融合多源数据的Ka相控阵天线可靠性评估》

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根据理论分析及工程经验，确定其他层级间故障模式之间的量化传播关联关系，并以条件概率的形式表示，底层芯片及元器件的失效率可选定为指数分布。值得注意的是，如图2的硬件流程分析，Ka相控阵天线有472路通道，并不是每一路通道失效都会导致天线的整体性能下降或失效。根据工程经验，失效通道数量在总数量的15%以内，则认为不影响整机性能，故认为472路通道为并联关系，通道失效数在71路以内，不影响整机性能指标。