《表3 测试结果分析比较：基于LK8810S平台的DAC数字芯片的性能评估及研究》

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《基于LK8810S平台的DAC数字芯片的性能评估及研究》

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如表3，从测试结果分析可以得出，参数测试的引脚工作电流与芯片手册上需要的数据一致，对各个输入引脚进行高电平测试的结果与芯片手册上数值有非常小的误差，芯片功能测试结果正确，测试结果与理论分析数据基本相符合，有较小误差，误差来源由于测试器件和外接电路包含器件自身的精度原因造成，从数据结果表明基于该平台测试的芯片相关参数和功能测试正确，说明用于测试的芯片完好，可以完全用于工业、实验教学等场合使用。