《表1 国产DAC测试结果及与国际水平的比较》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《下一代光传输系统DAC芯片动态性能测试方法》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

*注:网址为www.fujitsu.com/cn/en/products/devices/semiconductor/fsp/asic/asic/ipmacro/networkingips/

需要特别注意的是随着频率增高，测试线缆、巴伦、隔直器件以及PCB走线的损耗也会增大，仅线缆差损16GHz时的差损相比1GHz时就会增大2dB左右[8]。图5所示为待测DAC测得的1~16GHz频率范围内的增益曲线。其中，蓝色圆点曲线为测试板整体的增益，包含了待测DAC、线缆、巴伦、隔直器件以及PCB走线的全链路增益，红色星型曲线为去除线缆损耗后的增益，绿色方块曲线为去除线缆、巴伦、隔直器件以及PCB走线得到的DAC增益曲线。可见，测试辅助器件的差损及随频率的变化对最终测试结果影响很大。图6所示为输入15.745GHz正弦信号时的DAC输出频谱。